作品简介

资深芯片验证专家刘斌(路桑)围绕目前芯片功能验证的主流方法—动态仿真面临的日常问题展开分析和讨论。根据验证工程师在仿真工作中容易遇到的技术疑难点,本书内容在逻辑上分为SystemVerilog疑难点、UVM疑难点和Testbench疑难点三部分。作者精心收集了上百个问题,给出翔实的参考用例,指导读者解决实际问题。在这本实践性很强的书中,作者期望能够将作者与诸多工程师基于常见问题的交流进行总结,以易读易用的组织结构呈现给读者,目的是帮助芯片验证工程师更有效地处理技术疑难点,加快芯片验证的调试过程。

刘斌(路桑),毕业于西安交通大学微电子专业,瑞典皇家理工学院芯片设计专业硕士。拥有超过50000名验证从业订阅者的路科验证创始人,主持国内前沿的芯片验证架构规划和方法学研究,担任过数款十亿门级通信芯片的验证经理,目前独立从事芯片验证技术咨询。同时在西安电子科技大学长期客座授课,以及开展芯片验证职业在线教育为业界输送大量人才。著有《芯片验证漫游指南》。可通过bin.liu@rockeric.com与作者取得联系。

作品目录

  • 内容简介
  • 自 序
  • 第1章 什么是疑难点?
  • 第2章 SystemVerilog疑难点集合
  • 2.1 数据使用
  • 2.2 操作符使用
  • 2.3 模块、接口与方法
  • 2.4 类的使用
  • 2.5 随机约束使用
  • 2.6 覆盖率应用
  • 2.7 线程应用
  • 2.8 断言应用
  • 第3章 UVM疑难点集合
  • 3.1 UVM机制
  • 3.2 通信与同步
  • 3.3 测试序列
  • 3.4 寄存器模型
  • 第4章 Testbench疑难点集合
  • 4.1 编译与导入
  • 4.2 验证组件实现
  • 4.3 测试平台控制
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