作品简介
本书从多渠道搜集奖项样本，建立了一份有代表性的、覆盖主要学科领域的国际科学技术奖项清单，以此为基础总结了国际科学技术奖项的发展现状，并通过问卷调查对所奖项样本的声誉进行定量测量，再通过绘制奖项图谱分析了奖项样本之间的相似性，以此实现对国际科学技术奖项的科学评价，推动国际科学技术奖项在科学技术评价中的应用。
本书的整体研究思路是：首先，完成文献研究和构建国际科学技术奖项数据库这两项基础性工作。其次，以所搜集的奖项样本为基础，完成样本分析、声誉调查和绘制奖项图谱这三项主要研究内容，旨在总结国际科学技术奖项的概况，实证分析国际科学技术奖项之间的相对重要性和相似性。最后，系统论述国际科学技术奖项作为大学排名指标的理论基础、优势和劣势，总结和探索国际科学技术奖项作为大学排名指标的实践。
郑俊涛，管理学博士，2009—2016年就读于上海交通大学高等教育研究院，师从刘念才教授。2013年赴荷兰莱顿大学科学与技术研究中心访学。主要研究领域为世界一流大学、科学技术评价。研究成果发表在Scientometrics、《清华大学教育研究》、《情报杂志》等中英文核心期刊，作为第一作者出版著作（《走进世界名校：英国》）一部。